Standard

IEC PAS 62162:2000 ED1

aug 2000 Erstattet

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 336,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 420,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Describes a uniform method for establishing charged-device model (CDM) electrostatic discharge (ESD) withstand thresholds. All packages semiconductor components, thin film circuits, surface acoustic wave (SAW) components, opto-electronic components, hybrid integrated circuits (HICS), and multi-chip modules (MCMs) containing any of these components are to be evaluated according to this standard. IEC/PAS 62162 will be re-issued in the form of IEC international standard under reference IEC 60748-20.

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 22. august 2000
Tilbaketrukket: 3. mai 2017
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: PAS
Products.Specs.pages
ISBN: 2831852889

ICS 31.080.01
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Erstattet av: IEC 60749-28:2017 ED1

IEC PAS 62162:2000 ED1

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Extended editions Extended editions (0)

Version history Inkluderte rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Produkt livssyklus