Standard

IEC 62416:2010 ED1

Publisert

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra IEC
  • Publisert:
  • Utgave: 1
  • Versjon: 1
  • Varetype: IS
  • ICS 31.080.30
  • ISO TC TC 47