Standard

IEC 62373:2006 ED1

Publisert

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Dokumentinformasjon

  • Standard fra IEC
  • Publisert:
  • Utgave: 1
  • Versjon: 1
  • Varetype: IS
  • ICS 31.080.30
  • ISO TC TC 47

Produktrelasjon