Standard

IEC 60147-4:1976 ED1

jan 1976 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk/French

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 1 741,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 2 176,00

Det finnes ingen utvidede utgaver tilgjengelig for denne standarden

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Gives conditions for electrical tests, for different temperature conditions and for different durations, as well as failure-defining characteristics and failure criteria, which are standardized for each device category. This permits a unique and easy comparison of data presented by different manufacturers, relative to acceptance testing as well as to reliability testing. Deals with semiconductor devices and digital integrated circuits (bipolar, MOS, multi-chip and hybrid circuits).

Dokumentinformasjon

Standard fra IEC
Publisert: 1. januar 1976
Tilbaketrukket: 31. mars 1995
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: IS
ISBN: 9782832209806

ICS 31.080.10
ISO TC TC 47

Produktrelasjon

Adoptert av: NEK IEC 60317-33:1990+AMD1:1997 CSV

IEC 60147-4:1976 ED1

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Utvidede utgaver (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon